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J-GLOBAL ID：201602002743306040   整理番号：74A0239737

電荷結合素子の雑音の測定

Measurements of noise in charge-coupleed devides.

著者 (3件)： CARMES J E ,  KOSONOCKY W F ,  LEVINE P A
資料名： RCA Rev (Radio Corp Am)  (RCA Review (Radio Corporation of America))
巻： 34  号： 4  ページ： 553-565  発行年： 1973年 
JST資料番号： D0503A  ISSN： 0033-6831  CODEN： RCARCI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電荷結合素子の動作中の雑音の理論を証明する実験データが得られた。この雑音は速い界面準位に電荷が捕獲されることによる転送雑音とCCDレジスタの入力への光学的,電気的なホワイト雑音とに関連したものである。ショット雑音より低い雑音をもつ信号を導入できるCCDレジスタの入力回路の動作についても実験を行った;写図8参16

シソーラス用語： 雑音 ,  雑音測定 ,  電荷結合素子

タイトルに関連する用語 (2件)： 電荷結合素子 ,  雑音