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J-GLOBAL ID：201602002745989624   整理番号：58A0069195

掃引周波数の背面散乱データの使用-斜入射電離層特性の決定

The Use of Sweep-Frequency Beckscatter Data for Determining Oblique-Incidence Ionospheric Characteriatics.

著者 (1件)： SILBERSTEIN R
資料名： J Geophys Res  (Journal of Geophysical Research)
巻： 63  号： 2  ページ： 335-351  発行年： 1958年 
JST資料番号： C0294A  ISSN： 0148-0227  CODEN： JJGRDA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

タイトルに関連する用語 (5件)： 掃引 ,  背面 ,  散乱 ,  斜入射 ,  電離層