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J-GLOBAL ID：201602002776443905   整理番号：70A0004548

光学的干渉パターンを用いるモワレ計測

Moire gauging using optical interference patterns.

著者 (2件)： BROOKS R E ,  HEFLINGER L O
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 8  号： 5  ページ： 935-939  発行年： 1969年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 物体の表面変形または二つの相似物体の表面購成における差を計測するための標記について述べた。レーザ干渉パターンで照明して物体上に格子状パターンを作り,それをビューカメラで撮ってマスターネガを作成した。そのネガをカメラの元の位置において,ネガを通して変形した。または第2の物体の像を見ると,物体における変化に相当するモワレじまを即座に観察できる。この技術は,非接触でかつ定量的であり,またどんな大きさの物体にも有用で,そしてその感度はその応用目的に合わせて容易に調節できる;写図7参6

シソーラス用語： 光干渉
準シソーラス用語： モワレ計測

タイトルに関連する用語 (4件)： 光学 ,  干渉パターン ,  モワレ ,  計測