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J-GLOBAL ID：201602002864013465   整理番号：69A0103367

イオン・マイクロプローブ質量分析

Progress in analytic methods for the ion microprobe mass analyzer.

著者 (1件)： ANDERSEN C A
資料名： Int J Mass Spectrom Ion P  (International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics)
巻： 2  号： 1  ページ： 61-74  発行年： 1969年 
JST資料番号： D0625A  ISSN： 0020-7381  CODEN： IJMIB   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： これは固体の表面を高速のイオン流束でたたいて,飛出してきたイオンを質量分析して,固体表面の局部の同位体密度,分布などを知る方法である。ここでは,衝突するイオンの化学種による飛散イオン量率を種々の元素や化合物についてしらべた。不活性ガスイオンでたたくと,金属から出る正イオン量は,よく知られているように,時間と共に減衰する陰性の活性ガスイオンででたたくと,飛散量は高くて変らない。また,。活性ガスでたたいたとき,飛散する原子の量とイオンの量の間には一定の簡単な関係がある;写図9参27

シソーラス用語： 質量分析計
準シソーラス用語： イオンマイクロプローブ ,  質量分析計(イオンマイクロプローブ)

タイトルに関連する用語 (3件)： イオン ,  マイクロプローブ ,  質量分析