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J-GLOBAL ID：201602002918469311   整理番号：70A0062169

結晶振動細束X線回折法による微小領域の応力測定と二,三の応用

著者 (2件)： 小長哲郎 ,  本田和男
資料名： 日本機械学会誌  (Journal of the Japan Society of Mechanical Engineers)
巻： 73  号： 618  ページ： 972-979  発行年： 1970年 
JST資料番号： F0228A  ISSN： 0021-4728  CODEN： NKGKA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 従来の細束X線技術に結晶振動法を導入し,局所的な部分の応力と結晶の変形状態を知ることを可能にした結晶振動細束X線回折法の原理,具休的方法および精度の検討を中心に,疲れき裂先端への適用例についても言及。工学的および金属物理学的立場よりき裂伝ぱ機構は総合的に解釈するためには,き裂先端のひずみ,応力状態および結晶の微視的変形状態に関する情報を同時に知りうる実験的手法が望まれる。このような条件を満すものの一つとして,本稿の回折法の長所がある;写図12表7参26

シソーラス用語： き裂 ,  応力測定 ,  結晶
準シソーラス用語： X線回析 ,  結晶振動 ,  伝ぱ

タイトルに関連する用語 (6件)： 結晶 ,  束 ,  X線回折法 ,  微小領域 ,  応力測定 ,  応用