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J-GLOBAL ID：201602003027679508   整理番号：72A0286768

走査型電子顕微鏡 DFVLRのInstitut fuer Werkstoff-Forschungにおける新しい研究手段

Die Raster-Elektronenmikroskopie, eine ergaenzende Untersuchungsmethode im institut fuer Werkstoff-Forschung der DFVLR.

著者 (1件)： ZIEGLER G
資料名： Mitt Dtsch Luft Raumfahrt  (Mitteilung. Deutsche Luft- und Raumfahrt)
号： 71-32  ページ： 1-34  発行年： 1971年 
JST資料番号： D0271B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： 走査型電子顕微鏡の基本原理についての簡単な手引き。DFVLRのInstitut fuer Werkstoff-Forschungで行なわれている破断面の微細観察,複合材料,粉末や金,や金学的研究等の分野におけるこの新しい研究方法の応用の可能性について述べる。走査型電子顕微鏡を使用することによりさまざまな研究領域における広範囲な情報が写真という典型的な表現手段によって得られる。多くの場合,走査型電子顕微鏡と他の基礎的技術を組み合わせて用いることにより材料表面のtopographieと微細構造に関する適切な証明を得ることが可能である;写図12表4参15

シソーラス用語： 金属組織学 ,  電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  破面検査 ,  複合材料 ,  粉末や金
準シソーラス用語： 電子顕微鏡法

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査型電子顕微鏡 ,  DFVLR ,  研究