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J-GLOBAL ID：201602003041967893 整理番号：60A0101568
半導体の小数電流キァリアの寿命の位相法による測定
Mereni doby zivota minoritnich noeitelu proudu v polovodicich fazovou metodou.
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著者 (1件)：
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資料名：
Mar Obs (Mar Observer)
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巻：
21
号：
2
ページ：
103-106
発行年：
1960年
JST資料番号：
E0200A
ISSN：
0025-3251
CODEN：
MAOBA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
イギリス (GBR)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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半導体に光をあてて測定する方法で光源からの光信号と半導体から導かれる信号間の位相差を測定して寿命を求める方法.この測定法数種の理論と実際を述べ特にこれらのうちの一方法による測定装置につき詳述した.この方法による従米の測定器の欠点および改良策を述べ寿命を指示計器で直読する方法の可能性を論じた
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