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J-GLOBAL ID：201602003136426385   整理番号：72A0254840

ICの熱分布とその検査

著者 (2件)： 瀬田源みつ ,  望月博
資料名： エレクトロニクス
巻： 16  号： 12  ページ： 1270-1276  発行年： 1971年 
JST資料番号： F0037A  ISSN： 0421-3513  CODEN： ERKTA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ICの熱分布の測定に関する代表的な方法として,赤外線放射を利用したサーマル・マイクロプロッタおよびサーマル・マイクログラフィの二つの手法を中心に解説した。放射の法則,代表的装置姓能を概説し,パワートランジスタの放射エネルギーおよび温度分布図,ICのサーマル・マイクログラフィの例を示した。 装置の応用として理論設計の立証,生産管理,故障解析の実例とその効果を示した;写図14表1参3

シソーラス用語： 試験装置 ,  集積回路
準シソーラス用語： サーモグラフィ

タイトルに関連する用語 (3件)： IC ,  熱分布 ,  検査