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J-GLOBAL ID：201602003156977418   整理番号：71A0052036

技術問題解析における走査電子顕微鏡の実用性

Practicability of the SEM in analysis of engineering problems.

著者 (2件)： DRAGINIS M ,  LANTERMAN E
資料名： Pap Soc Automot Eng  (Papers. Society of Automotive Engineers)
号： 710620  ページ： i, 1-6  発行年： 1971年 
JST資料番号： D0244B  CODEN： SAUPA   資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ばね鋼の疲れと電気めっきプラスチックを例として技術問題の迅速解決への走査電子顕微鏡の利用について検討;写図16参8

シソーラス用語： 顕微鏡組織 ,  電子顕微鏡
準シソーラス用語： 組機検査

タイトルに関連する用語 (3件)： 解析 ,  走査電子顕微鏡 ,  実用性