抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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ダイオードおよびトランジスターの製造で生ずるスクラップGeは高純度のもので90%以上,低純度のもので10%以下のGeを含む.本報は低純度スクラップGeから純Geを回収する実験を行なった.スクラップGe中にはGeおよびGeO
2の形で含まれている.Geの分析法および成分分析についてのスクラップGeの分解法を確立するため実験を行なった.低含量スクラップGeは2種ものを処理した.一つは9.1%Geを含む暗灰色のもので他方は3.4%Geを含む灰白色のものである.これら試料からのGe回収法は次のとおりである.まず試料を粉砕し,ついで空気中300~700°Cで1~5hrs焼く.試料中のGeはGeO
2に変ずるからこれを6N-HClにとかし生ずる粗GeCl
4を蒸留する.さらに純すいにするために精留器を用いた.純GeCl
4を水中で加水分解しGeO
2に変え洗浄乾燥した.精製は各段階で慎重に行なった.GeO
2を水素気流中650°Cに加熱し粉末金属に還元.この金属粉末を不活性気流下1100°Cに加熱し塊とした.収率80%以上.