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J-GLOBAL ID:201602003208607940   整理番号:65A0241798

光電増倍管の疲労効果

Photomultiplier fatigue effects.
著者 (1件):
資料名:
号:ページ: 556  発行年: 1965年 
JST資料番号: B0373A  ISSN: 0017-9078  CODEN: HLTPA   資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA) 
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LiFの線量計としての性質の研究に,光電増倍管EMI 6097Cまたは6097Sが使用された.このときに光電増倍管のゲインに変化が生ずるのでそれについて検討され,報告されている.この変動は光電増倍管の陽極電流の制限,管のaging,ひん繁な校正をおこなうことにより1%におさえられるが,このような注意を怠ると10-20%またはそれ以上の誤差の原因となる.この疲労効果は管の型でかわり,同じ型でもそれぞれの管によって異なる.このゲインの変動は高感度の二次電子放出面への電子衝突に起因し,電流が大きい場合に大きくなる.温度,光の強度および照射時間がこの疲労効果およびその後の回復に影響する.また過去における陽極電流の履歴にも影響される.数10秒ずつ断続的に続く100μAの陽極電流は約10%のゲインの増加を生じ,これは数10分後に消える.陽極電流を1μAに制限すると感度の変化はl%よりも少なかった.原因がphotocathodeの疲労やsaturation effect でないことはゲインが減少しないで増加していることから推測される.Csで被覆した電極をもつ光電増倍管ではagingが疲労効果を減少させるので,6097C PM管はそれを室内光線下に1時間さらし,陽極電流をlmAに制限してagingされた.処理後数週間dark currentが大きく速やかに上下し,使用中何か月かの後に疲労効果は減少するように思われる.最近Reid,BakerおよびComptonは,この疲労効果が10,000cpm程度の低い計数に重大な誤差を生ぜしめることを示している;図1参18(山岡 義人)
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