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J-GLOBAL ID：201602003216076296   整理番号：70A0028855

四酸化キセノン.XeO₄の分子構造

Molecular structure of xenon tetroxide,XeO₄,

著者 (2件)： GUNDERSEN G ,  HEDBERG K
資料名： J Chem Phys  (Journal of Chemical Physics)
巻： 52  号： 2  ページ： 812-815  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0275A  ISSN： 0021-9606  CODEN： JCPSA6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： XeO,の分子構造を気相電子線回折で決定。結果は赤外スペクトルから推測されていた通り正四面体構造を示した。最小自乗法により核間距離と平均振幅を計算。r(Xe-O)=1.736A,r(00)=2。832A。Xe-0距離は固体XeO,中の値より短かく.XeOF,中の値よりわずかに長い;写図2表2参22

シソーラス用語： 電子回折 ,  分子構造
準シソーラス用語： X₂O₄電子線回折 ,  XeO₄ ,  四酸化キセノン ,  四酸化キセノン(分子構造) ,  電子線回折 ,  電子線回折(XeO₄) ,  分子構造(X₂O₄電子線回折)

タイトルに関連する用語 (2件)： 四酸化キセノン ,  分子構造