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J-GLOBAL ID：201602003224038441 整理番号：60A0100278
半導体の信頼度に関する研究
Semiconductor reliability studies.
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著者 (1件)：
WALTZ M C
WALTZ M C について
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資料名：
Bell Lab Rec (Bell Laboratories Record)
Bell Lab Rec について
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巻：
38
号：
3
ページ：
88-91
発行年：
1960年
JST資料番号：
B0061A
ISSN：
0005-8564
CODEN：
BLRCA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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ベル研究所で行なわれている半導体の信頼度に関する研究の紹介ある半導体装置を開発あるいは改良したとき.常に寿命試験を行なって信頼性の裏付けを行なうが.その手順を定性的に解説しに
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