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J-GLOBAL ID：201602003263550311   整理番号：71A0033673

コイド状シリカ懸濁液の位子の電子密度をx線小角散乱こより決定する方法

Small angle X-ray scattering determination of the electron density of the particles in a colloidal silica suspension.

著者 (1件)： PATEL I S
資料名： J Appl Crystallogr  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 4  号： 1  ページ： 50-55  発行年： 1971年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： コロイド状シリカ懸濁液の粒子の電子密度をX線小角散乱の二つの異なった方法を用いて決定した。第一の方法では粒子の電子密度は溶媒の電子密度を増加するために既知量のサッカロースを添加したことにより生ずるO’-ffK乱強度値の変化を測定する。第二の方法では懸濁液からの散乱を.近似的な理想気体からの散乱と比較することによる。密度2.28g.cm³のSio、粒子について,これらの方法により約5%の実験誤差で電子密度を測定することができた;写図2表1参18

シソーラス用語： X線小角散乱 ,  懸濁液 ,  電子密度 ,  二酸化けい素

タイトルに関連する用語 (4件)： シリカ ,  懸濁液 ,  電子密度 ,  X線小角散乱