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J-GLOBAL ID：201602003447824864   整理番号：72A0255380

セラミックー金属封じの欠陥を解析するための顕微鏡技術

Microscopic techniques for analyzing ceramic-metal seal failures.

著者 (1件)： BERRY T
資料名： IEEE Conf Rec Electron De  (IEEE Conference Record of Electron Device Techniques)
巻： 1970  ページ： 177-179  発行年： 1970年 
JST資料番号： A0845A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： RCAで使用されているセラミックー金属封じの研摩と顕微鏡を用いた評価技術について詳述。セラミックの微細構造は多孔性.結晶寸法,結晶対ガラス比について試験される。試料の切り出し摩き方,エッチングの方法についても記述。真空もれについても触れた;写図5参7

シソーラス用語： エッチング ,  セラミック ,  金属 ,  欠陥 ,  顕微鏡 ,  故障診断 ,  真空管 ,  電子管 ,  微細構造
準シソーラス用語： セラミック材料 ,  組立技術 ,  封着

タイトルに関連する用語 (3件)： 欠陥 ,  解析 ,  顕微鏡