抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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5×10
-6s程度のインパルス源と著者らの測定方法(1963)を用いて標題の各単結晶およびさらにCdS薄膜のS
er(遅い再結晶中心による電子捕獲断面)と〓
r(中心の濃度)を決定。S
es(速い中心による断面)は2×10
7sのインパルス源を用い,CdSe,とCdS
x-CdSe
1-x単結晶についてだけ決定された