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J-GLOBAL ID：201602003482580684   整理番号：70A0172957

熱,電離放射線またはエチレンオキシドにより傷害をうけた胞子の回収

Recovering spores damaged by heat, ionizing radiations of ethylene oxide.

著者 (1件)： ROBERTS T A
資料名： J Appl Bacteriol  (Journal of Applied Bacteriology)
巻： 33  号： 1  ページ： 74-94  発行年： 1970年 
JST資料番号： A0635A  ISSN： 0021-8847  CODEN： JABAA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Clestridiumについての実験,およびBacillus,腐敗けん気性菌についての他の研究者の研究から次のことを結論。熱,照射または化学薬品など,特定の型の傷害については限られた菌について研究される場合が多いので,この際,最適に近い回収条件を用いることが望ましいことを指摘。計数法,培養とそのpH値,培養温度は容易に検討できるし,添加物も胞子の回収に効果がある。培地の酸化還元電位は調節し難いが違った気相を研究することは価値がある。これらの因子の相互作用も見のがしてはならない。適温についての結果を適温以下での食品保存の際に信頼することは問題があると指適;写図5表12参82

シソーラス用語： オキシラン ,  電離放射線 ,  胞子
準シソーラス用語： Bacillus ,  Clostridium ,  エチレンオキシド ,  エチレンオキシド(胞子) ,  電離放射線(胞子)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電離放射線 ,  エチレンオキシド ,  傷害 ,  胞子