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J-GLOBAL ID：201602003501633433 整理番号：71A0024674
電界イオン顕微鏡法
Field-ion microscopy.
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著者 (1件)：
SOUTHWORTH H N
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資料名：
Contemp Phys (Contemporary Physics)
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巻：
11
号：
3
ページ：
209-226
発行年：
1970年
JST資料番号：
B0273B
ISSN：
0010-7514
CODEN：
CTPHA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
文献レビュー
発行国：
イギリス (GBR)
言語：
英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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E.Mallerによって作られた電界イオン顕微鏡は従来の方法と全く異っている。投影像を直接見る装置で100万倍の倍率で金属表面の個々の原子を白い点として見せている。それらの写真と共にこの装置の原理.使用法を説明した。次に研究の遅れている合金についてPtCoを使って構造を解析した。この顕微鏡法を応用して金属の表面に他の金属の薄膜を蒸着させると,原子の欠損も像の欠損として見えるという大きな利点から種々の格子欠陥について,また4’“5%程度の合金の構造について解説した。最後に技術的な改良,将来の応用面について述べた;写図13参8
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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