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J-GLOBAL ID：201602003594186946   整理番号：65A0168576

電磁コンパティビリティ試験に関する第7回全米会議報告

Intference testing beset by problems

著者 (1件)： HARNAR R
資料名： Electron Des  (Electronic Design)
巻： 13  号： 16  ページ： 12-13  発行年： 1965年 
JST資料番号： C0397A  ISSN： 0013-4872  CODEN： ELODA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 1965年6月28~30日,ニューヨークで開かれた標記会議での問題点,論争の中心点などを解説。主なものは,試験の自動化の問題,試験に関する軍規格の不統一,1Gc以上における標準や定義の不確定などで,それぞれについて解説;写2図1

タイトルに関連する用語 (3件)： 試験 ,  会議 ,  報告