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J-GLOBAL ID：201602003597459978 整理番号：65A0229676
信頼性と寿命試験に関するいくつかの様相
Some aspects of reliability and life testing.
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著者 (1件)：
HARTER H L
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資料名：
J Electron Div Am Soc Qua (Journal of the Electronics Division. American Society for Quality Control)
J Electron Div Am Soc Qua について
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巻：
3
号：
1
ページ：
5-14
発行年：
1964年
JST資料番号：
A0579A
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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基本的な定義を手法について、総括的に説明。条件付確率として定義した信頼度、直列信頼度、並列信頼度、ポアソン過程および指数分布としての信頼度の特徴、積率、正規分布、x2-分布による区間推定、逐次検定手順とその関係式、マルコフ過程および遷移確率と信頼度との関連性、Bayes的決定論の応用、などの諸種の項目について、数値的事例を加えながら、入門的に解説。逐次検定の概念図を図示。複雑なシステムの信頼度を改善するための方策として今後展開されるべきものについても付言。付録として、仮説検定手順などを例示;図1 参13
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