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J-GLOBAL ID：201602003651964187   整理番号：72A0053603

対数z平面におけるサンプル値系に対する根軌跡プロット

Root locus plots for sampled data systems inthe Lnzplane.

著者 (2件)： MARROQUIN G ,  LUYBEN W L
資料名： Instrum Technol  (ISA Journal)
巻： 18  号： 9  ページ： 69-72  発行年： 1971年 
JST資料番号： C0215A  ISSN： 0020-4382  CODEN： IRTCA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 根軌跡
準シソーラス用語： サンプル値制御系

タイトルに関連する用語 (4件)： 対数 ,  サンプル値系 ,  根軌跡 ,  プロット