抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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66MeVα粒子による
175Lu(α。5n)
174Ta反応により
174Taを作りGe(Li)検出器により60~3000keVの約200個のガンマ線について半減期を測定した。そのうち95%以上が
175Hf,
174Hf,
173Luに属するものであった。
174Taの半減期は71.5±65分であった。Ge(Li)NaIによる同時計数ならびにSi(Li)による内部変換電子の測定も併せて行った。
174Taの崩壊に属する100個の遷移のエネルギーとガンマ線強度を測定し32個の内部変換係数を決めた。16個の準位のJ
〓を決め更に16個の準位の存在を提案した。60個のガンマ遷移を崩壊図式に組立てた。基底状態回転帯の4
+準位に非常に強くベータ遷移することが見出された;写図5表4参10