抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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多数のらせん転位アレイを含んだ塑性変形したGeの外来伝導度を調べた。転位はSbをドープしたGe円柱をねじることにより発生させ,転位密度はエッチピット法によって決定した。活性スリップ面上の転位アレイに平行及び垂直な電流に対するHall型試料について暗伝導度及び過渡及び定常光伝導度を測定した。その結果,らせん転位はGe中のアクセプタ準位には関係ないことがわかった;写図4表4参18