抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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半導体検出器によるE.ΔE/Δxにお測定から粒子の識別を行う際に,EおよびΔE/Δxの信号の統計的変動の性質を考慮し,信号-雑音比を改良する方法を与えた。定常的な場合で,EとΔE/Δxの信号パルスに対して広い透過帯域のある場合,雑音信号の存在する中でΔE/Δx信号を測定して,雑音記号の効果を知ることができ,全体の信号の中から雑音による偽信号の効果を差し引きする;図8参7