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J-GLOBAL ID：201602003748759790   整理番号：66A0033678

試験機の負荷機構の改造

Changing the loading mechanism of the MP

著者 (4件)： KOSAREV A I ,  VOKOV A I ,  PRONIN A T ,  PLATONOV V S
資料名： Ind Lab Diagn Mater  (Industrial Laboratory. Diagnostics of Materials)
巻： 21  号： 8  ページ： 1272  発行年： 1965年 
JST資料番号： C0557A  ISSN： 0019-8447  CODEN： INLAF3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 温度1200°C以下・荷重5トン以下で長期りさおよ皿クリープ試験機の負荷機構は二つS-よこり成っているが,低荷重範囲(500-1500kg)では感度が惡いので・単一レ・・一機構に改造し,他0試験機と同等の感度に上げることに:成功した;図1

タイトルに関連する用語 (2件)： 試験機 ,  改造