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J-GLOBAL ID：201602003859748445   整理番号：65A0183780

高ひずみ-低周波疲れによるひび割れの発生と成長

Crack nucleation and growth in high strain-low cycle fatigue.

著者 (3件)： BCETTNER R C ,  LAIRD C ,  McEVILY A J Jr
資料名： Trans Metall Soc AIME  (Transactions of the American Institute of Mining, Metallurgical and Petroleum Engineers. Metallurgical Society)
巻： 233  号： 2  ページ： 379-387  発行年： 1965年 
JST資料番号： E0265A  CODEN： TMSAA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： coffinの法則に関する基礎的知見を得る目的で低周期による疲れ損傷の機構を検討した。順逆方向の塑性変形を繰返す間にひび割れの核が特に結晶粒界に著しく発生する。このひび割れは試料の疲れ寿命の75%以上に相当する時間をかけて徐々に成長する。また不純物が存在すると,それがひび割れの核になることが多い;写11図4表3参13

タイトルに関連する用語 (4件)： ひずみ ,  低周波 ,  ひび割れ ,  成長