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J-GLOBAL ID：201602003914953100   整理番号：65A0015608

α-Cu-Znおよびα-Cu-Snの積層欠陥と内部ひずみのX線測定

X-ray measurements of stacking faults and internal strains in α-Cu-Zn and α-Cu-Sn.

著者 (2件)： WAGNER C N J ,  HELION J C
資料名： J Appl Phys  (Journal of Applied Physics)
巻： 36  号： 9  ページ： 2830-2837  発行年： 1965年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 銅ターゲットでX線を発生させフィルタを通し回折計でやすり粉にすることで冷間加工し,それを焼なました面心立方晶のCu-ZnおよびCu-Sn合金のデバイ-シェラー回折を行なった。各面(hkl)反射のピーク位置から格子定数ahklを求めた。冷間加工粉末のahkl値のずれは変形積層欠陥確率α=α’-α”(ここでα’は内因性欠陥確率,α”は外因性欠陥確率)と偏析△xおよび内部応力σに関係している。αは溶質原子濃度が高くなると大きくなる。双晶欠陥確率βとα”,即ち4.5α”+βは(111)と(200)反射のピーク最大位置のずれから求められる;図5表3参32

タイトルに関連する用語 (3件)： 積層欠陥 ,  内部ひずみ ,  X線