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J-GLOBAL ID:201602004676880367   整理番号:71A0245184

混成集積回路用Low-TCR-Kanthal抵抗薄膜

Low TCR kanthal resistive films for hybrid IC’s.
著者 (3件):
資料名:
巻:号:ページ: 588-592  発行年: 1970年 
JST資料番号: C0789A  ISSN: 0022-5355  CODEN: JVSTAL  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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混成集積回路の抵抗薄膜として用いられるKanthal合金(70%Fe,22%Cr,5.5%Al)の使用適性について,特に抵抗の温度依存性(TCR)が小さいことなどを1×10-5Torrの真空中で調べた。温度は0.1°C,抵抗測定用ブリッジは±0.1%の誤差内に制御した。その結果通常のKanthalは密度7.1g/cm3,TCRは0°~400°Cの温度範囲で32.3ppm/°Cであるが,急速蒸発等の技術を導入することにより,面抵抗20Ω/sq~250Ω/sqの範囲内で10pPm程度のLow-TCR薄膜が得られることが明らかとなった;写図3表1参12
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