抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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六方最密構造の銀-すずおよび銀-インジウム合金のX線粉末回折線をフーリエ法と線幅法により解析,線幅の広がりをそれぞれの原因すなわち粒度,格子ひずみおよび積層欠陥によるものに分離する.銀-インジウムよりも銀-すずの方が積層欠陥確率が大きい.両者共に面心立方相との境界の近くの組成で積層欠陥が最大となる。従って積層欠陥密度は六方相と面心立方相の相対的な自由エネルギーに依存することになり,電子の密度には無関係である;図5表1参7