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J-GLOBAL ID：201602004711180624   整理番号：70A0260635

最大ゲート密度に対するECL回路の相互接続

Interconnection of ECL circuits for maximum gate bensity.

著者 (1件)： GARTH E C
資料名： IEEE Int Conv Dig  (IEEE International Convention Digest)
巻： 1970  号： DIGEST  ページ： 256-257  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0216B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ギガビットディジタル回路を用いて,高速ディジタルシステムの設計を考える際には,伝送線の相互接続を考える必要がある。これは,半導体ディバイスや集積回路技術の進歩の度合と相互接続の技術のくいちがいからくる。配線のために伝送の遅れが生じるがこれが回路のスピードを決定している。システムの観点から接続の技術と回路の技術のギャップをなくすることが強く望まれる。この問題について従来の技術を用いたものや,便利な配線上の規則や,およびCAD(コンピュータによるデザイン)について考察を加えてみた;写図4

シソーラス用語： 相互接続
準シソーラス用語： ECL回路 ,  ECL回路(相互接続)

タイトルに関連する用語 (4件)： ゲート ,  密度 ,  ECL ,  相互接続