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文献
J-GLOBAL ID:201602004802044758   整理番号:60A0014716

薄膜の焼なましと酸化のX線反射法による研究

X-ray reflection studies of the anneal and oxidation of some thin solid films.
著者 (2件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 1331-1337  発行年: 1960年
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA) 
抄録/ポイント:
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みがいたガラス下地上へ真空蒸着したGu,Ni,Ge,Seの薄膜の研究にX線全反射法を使用した。真空中熱処理または酸化によるX線反射曲線の変化から表面構造の変化が調べられる
タイトルに関連する用語 (5件):
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