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J-GLOBAL ID：201602004806749594   整理番号：74A0008908

可視波長に対するX線比

X-ray to visible wavelength ratios.

著者 (2件)： DESLATTES R D ,  HENINS A
資料名： Phys Rev Lett  (Physical Review Letters)
巻： 31  号： 16  ページ： 972-975  発行年： 1973年 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Siのほとんど完全な単結晶の格子反復距離を,安定化He-Neレーザの可視波長により測定した。この結晶を用いて,X線(CuKa,,MoKα1)を回折させ,それにより可視基準に対するその波長を決定した。λ(CuKa,〉=1-537400kxuのX線スケールにおいて,通常の因子は△Cu-1.0020aozA/kxu(1ppm)である;写図2表1参17

シソーラス用語： X線干渉計
準シソーラス用語： He-Neレーザ ,  Si ,  シリコン ,  波長標準

タイトルに関連する用語 (2件)： 波長 ,  X線