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J-GLOBAL ID：201602005020076061   整理番号：72A0239822

複素透磁率および誘電率のマイクロ波測定

Measurement of the intrinsic properties of materials by time-domain techniques.

著者 (2件)： NICOLSON A M ,  ROSS G F
資料名： IEEE Trans Instrum Meas  (IRE Transactions on Instrumentation)
巻： 19  号： 4  ページ： 377-382  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 線形物質の高周波定数をVHFからX帯までの広い範囲にわたって測る方法について報告する。この種測定は従来特定周波数について行われていたが,本方法の特微はこれを時間領域に移して考えた点である。すなわち試料は円板状にして同軸線路の中へ装着し,TEMモードの連続波と狭いパルスとによって励振するもので,試料によるSパラメータの変化に着目した測定法である。端絡終端から試料までの距離を単位として試料から検出ヘッドまでは2倍,ヘッドからパルス発生器までは4倍の距離になっている。検出した信号は計算機で処理し,±5%程度の再現性を得た;写図12参4

シソーラス用語： マイクロ波測定 ,  磁化率
準シソーラス用語： 誘電率測定

タイトルに関連する用語 (3件)： 複素透磁率 ,  誘電率 ,  マイクロ波測定