Kelvin法による接触電位差の測定における浮遊容量の効果

IYARCY R J; SURPLICE N A

文献

J-GLOBAL ID：201602005035671721 整理番号：70A0000642

Kelvin法による接触電位差の測定における浮遊容量の効果

The effects of stray capacitance on the Kelvin method for measuring contact potential difference.

出版者サイト複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで

著者 (2件)： ,
資料名：
巻： 3 号： 4 ページ： 482-488 発行年： 1970年
JST資料番号： B0092B ISSN： 0022-3727 CODEN： JPAPBE 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

Ke1〓in法における浮遊容量の問題を簡単な理論により考察し,これが重要な影響をもつことを実験により確認する。通常は測定値と直の値との間に敷分の1V程度の誤差を与えることになる。その効果の大きさは振動容量電極と真空器壁との問の接触電位差に比例し,またKelvin電極間の距離および振幅にもそれぞれ比例する;写図5参6

, ,

前のページに戻る