文献
J-GLOBAL ID：201602005044252782 整理番号：65A0087889
内部示差X線吸収端分光法
Internal differential Xray absorption edge spectro metry.
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著者 (1件)：
CULLEN T J
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資料名：
Anal Chem (Analytical Chemistry)
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巻：
37
号：
6
ページ：
711-713
発行年：
1965年
JST資料番号：
A0395A
ISSN：
0003-2700
CODEN：
ANCHAM
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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目的元素の吸収端の両側に特性X線をもつ元素の両特性線の強度比から目的成分を定量する方法。Cu-Ni合金中のNiにはCuKαとCuKβがそのまま利用できる。Seを含む溶液の分析にはBrを加える。Agの分析にはWターゲットのX線管の白包X線が利用できる。この方法は通常のX線分析装置でそのまま行うことができる;図3表2参4
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