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J-GLOBAL ID：201602005283051950   整理番号：71A0230059

同定の新しい方向: 構成上の距離と弱トポロジー

New trends in identification: structural distance and weak topology.

著者 (3件)： RICHALET J ,  LECAMUS F ,  HUMMEL P
資料名： Preprints IFAC Symp 2nd Prague Identification Process Parameter Estimation Part 1  (Preprints. IFAC Symposium on Identification and Process Parameter Estimation 2nd 700615 Vol.1)
ページ： 1.2.1-1.2.10  発行年： 1970年 
JST資料番号： K19700003  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 旧チェコスロバキア (CSK)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 古典的なモデル理論では,解析しようとするプロセスがあるあたえられた特性をもつパラメータ空間であらわされることを仮定している。ここではまずモデルMとプロセスOの距離D(O,M)を定義する。誤差をεとしたときD(O,M)はε²,|ε|などであらわせる。このときDはモデルと規測プロセスの測度になっているので,同定問継は最小2乗推定あるいはD(O,M)の非線形繰返し最小化,たとえばD(O,M)・(P_4l)露∫_HP(ε)f(t)dtの最小化問題になる。本論文ではこれらの新しい方法と古典的な方法を比較している;写図9参4

シソーラス用語： システム同定

タイトルに関連する用語 (2件)： 同定 ,  トポロジー