抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
電子部品のはんだ付性,信頼性を向上するため,従来のAuめっきに代り,Au/Ni85/15合金めっきを研究。Au線にはんだめっきしたものはAu/Sn合金生成がはなはだしいが,黄銅板にAu/Ni合金めっきしたものはAuの拡散は認められない。Au/Niめっき面ははんだ付性は4週間後も変化せず,耐食性に優れ,はんだで重ね合せ接合した試片のせん断強さはAuめっきより大きい;写図12表1参9