文献

J-GLOBAL ID：201602005635956673   整理番号：72A0258156

固体雑音源の測定

Measurement on a solid-state noise source.

著者 (2件)： ROBERTS J A ,  GOSLING W
資料名： Radio Electron Eng  (Journal of British IRE)
巻： 40  号： 6  ページ： 323-324  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0272A  ISSN： 0033-7722  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 5-6Vの範囲で降伏するダイオードは・ツェナー降伏とアバランシェ降伏の両方を起こす。測定の結果,降伏電圧が5-6Vのプレーナシリコン接合は・良質の波形の1GHzに達する雑音を発生する・ブリッカ雑音は存在しない。雑音はkT・よりも数十dB大きい・また雑音電圧は降伏電流力(iミい場合には・降伏電流の平方根に反比例する。ところで,アバフンンェダイオードの雑音電圧はバイアス電流の平方根に反比例し,実験の結果と一致する。このことはまた.アバランシェーツェナーダイオードの雑音の発生は.主としてアバランシェ現象によるという仮説を支持する;写図1参1

シソーラス用語： 雑音測定
準シソーラス用語： アバランシエダイオード ,  降伏現象

タイトルに関連する用語 (2件)： 固体 ,  雑音源