抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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不純物の全量がppm程度の高純度物質を分析する場合は,超微量成分に対する検量線が直線関係を満たすことが重要であるが,分光分析法による微量分析にあって直流アークを用いるときは,明らかに非直線的な検量線が得られる,このため積分法によるバックグラウンドの補正を行ない,またこのための積分識別回路を考案した。上記によって高純度銀中0.1ppmまでの銅,ビスマスおよびカドミウムに対し直線的な検量線を得ることができた;写図8参7