抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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基板上に吸着した原子間の有効相互作用を計算した。相互作用は基板中のフォノンの交換から生ずるもので吸着系の粒子当りの基底状態エネルギーへの密度に依存した寄与を与える。ここの結果をスチユアートとダッシュによって研究されたアルゴンめつきした銅上に吸着した準単一層ヘリウム薄膜に適用した。その結果相互作用は引力で粒子当りの基底状態エネルギーに一1°K程度寄与していることを示した:参18