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J-GLOBAL ID：201602005802317327   整理番号：70A0000116

パッシブエタロンの寸法の安定性についての干渉法による測定

Interferometric techniques for measuring dimensional stability of passive etalons.

著者 (2件)： BRUCE C F ,  DUFFY R M
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 9  号： 3  ページ： 743-747  発行年： 1970年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 石英やセルビットなど低膨張材料で作ったスペーサをもつエタロンは.安定化レーザの性能検査に重要な役割をもつが,Kr86からのXペクトル線を指標として寸法の安定性を求めた。平行平面エタロンと球面状Fabry-Perotエタロンに磁気的に寸法変化を与え干渉じまにどの程度の影響があるかを調べた。その結果スペーサ材料の絶対的な安定性が1/10⁸の程度である;写図7参12

シソーラス用語： スペーサ
準シソーラス用語： Fabry-Perotエタロン ,  エタロン ,  セルビット

タイトルに関連する用語 (2件)： 安定性 ,  干渉法