低周波におけるシールド効果のレゾナンスに対する考察

SCHULZ R B; PLANTZ V C; BRUSH D R

文献

J-GLOBAL ID：201602005803439884 整理番号：68A0220155

低周波におけるシールド効果のレゾナンスに対する考察

Lowfrequency shielding resonance.

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資料名：
号： 1 ページ： 7-15 発行年： 1968年
JST資料番号： H0383A ISSN： 0018-9375 CODEN： IEMCAE 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA)

標準的なシールド用容器が502Hz kHzの範囲において低周Z Eソナンス(ある周波数において共振曲線の示めすようにシールド効果が良好になる現象)が発見されている。これはシールド容器の材料を伝わって内部に達する電波と,容器の割れ目を通って内部に達する電波とが,容器内部の受信点において位相差があるためである。本篇はシールド容器の平板に直角な,割れ目の電波の通路を仮定し解析した。容器として6x8 xio in1620n6遷2o inの各種のものにつき実験し,解析結果とよく一致した;写図12表1参3

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