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J-GLOBAL ID：201602005826655843   整理番号：71A0010259

高次Lloyd干渉計

Higher-order Lloyd interferometer.

著者 (1件)： LANGENBECK P
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 9  号： 8  ページ： 1838-1840  発行年： 1970年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面の平面度をLlOydの干渉を用いて観察する著者の方法(同誌丘.1707C6の)で回折格子をテスト平面の端に置き,回折の効果を利用することによってその高次の干渉じまで充分観測できる幅が得られる。しかし垂直入射の干渉じまに比べて感度は低い;写図5参3

シソーラス用語： 干渉計 ,  平面度
準シソーラス用語： Lloyd干渉計 ,  Llozd ,  干渉計(Llozd-)

タイトルに関連する用語 (1件)： 干渉計