文献

J-GLOBAL ID：201602005853917990   整理番号：70A0282377

低サイクル疲れ-荷重制御・ひずみ制御-に関する研究 I 両振繰返し試験における応力-ひずみ履歴曲線について

著者 (6件)： 渡辺正紀 ,  松野博 ,  田中貞夫 ,  青木尚夫 ,  吉村茂彦 ,  岡本太郎
資料名： 溶接学会全国大会講演概要  (Preprints of the National Meeting of J.W.S.)
巻： 6  ページ： 155-156  発行年： 1970年 
JST資料番号： F0641A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 両振繰返し試験における応力-ひずみ履歴曲線について荷重制御およびひずみ制御法の相関性を検討。飽和時における引張,圧縮側の応力-ひずみ履歴曲線はσ=σ₀εⁿ_pで近似でき,塑性ひずみ範囲△ε_pが同一であれば制御法に関係なくσ0,nの値は等しい。硬化曲線形状は最初の数サイクルで引張側と圧縮側で差があるが飽和時では一致;写図7

シソーラス用語： ひずみ ,  低サイクル疲れ
準シソーラス用語： 引張圧縮疲れ試験 ,  硬化曲線 ,  両振繰返し試験

タイトルに関連する用語 (7件)： 低サイクル疲れ ,  ひずみ制御 ,  研究 ,  繰返し試験 ,  応力 ,  ひずみ ,  履歴曲線