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J-GLOBAL ID:201602005889008791   整理番号:72A0280473

ふっ化物系溶融塩の照合電極

資料名:
号: 11  ページ:発行年: 1971年 
JST資料番号: G0263A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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溶融塩系のうちで特に安定なふっ化物系溶融塩は広く採用されているが,電気化学的研究を行なう場合必要な電位の基準となる照合電極は常識的材料ではだめである。ここでは,Ni/NiF2系と溶融塩を浸透させた窒化ほう素膜を用いて濃淡電池を作り起電力を測定し,溶融塩の膜中への浸透は約12hで行なわれること,500~600°Cとすると見掛けの液間電位が小さく再現性のよいこと,電解開始時からの膜の寿命は少なくとも12h以上になること,NiF2濃度の変化による電位変化を計算できることなどがわかり,現状ではもっともすぐれたものと考えられ今後各種の金属-金属ふっ化物電極系の反応機構の解明を予定;表1
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