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J-GLOBAL ID：201602005938857376   整理番号：71A0034341

点欠陥の電界イオン顕微鏡観察

Field ion microscopy of point defects.

著者 (1件)： MULLER E W
資料名： Proc Intern Conf Vacancies Interstitials Metals Juelich  (Proceedings International Conference on Vacancies and Interstitials in Metals 680923)
ページ： 557-573  発行年： 1970年 
JST資料番号： K19680156  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 格子欠陥研究における電界イオン顕微鏡の有用性を解説。まず,イオン顕微鏡によってコントラストが発生する原理と点欠陥の像の特長を解説し・次に凍結空格子点,低エネルギー粒子照射によって生成される欠陥α粒子およびプロトン照射.中性子照射による欠陥へのイオン頭微鏡の利用について説明している。これらの結果から,bccおよびfcc金属での運動欠陥についての情報は信頼性が高いが,hCp金属についてはデータが不十分であり-さらに詳細な研究が必要であることを指摘;写図8参42

シソーラス用語： 空格子点 ,  点欠陥 ,  放射線照射
準シソーラス用語： イオン顕微鏡

タイトルに関連する用語 (3件)： 点欠陥 ,  電界イオン顕微鏡 ,  観察