抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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誘電損率(ロス・ファクター)測定によるアルマイトの封孔度試験法について概説する。この方法はドイツ規格DIN50920などで検討されているもので,その長所は皮膜厚さ,測定面積に関係なく,ロス・ファクター(D値)として測定されることである。アルマイトを封孔すると,封孔程度により,皮膜孔内部は電気抵抗が増加し,一部はコンデンサーになったような所も生じ,電気的にみると,抵抗RとコンデンサーCの複合体のような形になる。交番電圧をかけると電圧と電流との間に位相差Dを生じるようなる。D値は封孔度が進むにつれて減少する;写図8
