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J-GLOBAL ID：201602005988660212   整理番号：71A0134155

混晶半導体物質の化学量論と均質性の特性電子マイクロプローブ特性

Electron microprobe characterization of the stoichiometry and homogeneity of mixed-crystal semiconductor materials.

著者 (2件)： SMITH J P ,  KRAUS H
資料名： Appl Spectrosc  (Applied Spectroscopy)
巻： 24  号： 6  ページ： 580-582  発行年： 1970年 
JST資料番号： A0429A  ISSN： 0003-7028  CODEN： APSPA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： (Hg_1-xCd_x)Teを試料とし52.5°の電子マイクロプローブで測定した。測定にはHg,Cd,TeのL系列のX線放射を使用しX線強度は,CdTe,HgTeの単結晶のものと比較した。Van der Pauw’s法によって化学量論式を導いたが,これは,L系列放射にしか応用できない。極度にCdが多いものについてはこの線はわずかにずれる;写図2表1参6

シソーラス用語： 化学量論 ,  固溶体 ,  電子プローブX線分析 ,  半導体
準シソーラス用語： テルル化カドミウム ,  テルル化水銀 ,  混晶

タイトルに関連する用語 (5件)： 混晶半導体 ,  物質 ,  化学量論 ,  均質性 ,  電子マイクロプローブ