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J-GLOBAL ID：201602006080933881 整理番号：70A0046995
新時代の非破壊試験用赤外線装置
New generation of infrared devices makes nondestructive testing easier.
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資料名：
Prod Eng (N.Y.) (Product Engineering)
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巻：
41
号：
16
ページ：
24
発行年：
1970年
JST資料番号：
D0400A
ISSN：
0032-9754
CODEN：
PRENA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
言語：
英語 (EN)
抄録/ポイント：
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電子回路,機器,装置などの加熱状態における分析を行なうのに使用する新しい装置が,3社で開発。(1)Barnes Engineering社の3次元表示用マイクロスキャナはマイクロ回路の加熱状態写真撮影に使用。(2)TI社の超高分解能力メラ“Termiscope”。(3)AGA社の新型赤外線映像装置“Thermovision”。各社の特長と機能を概説;写図4
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