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J-GLOBAL ID：201602006197312551   整理番号：70A0046107

計算機制御のディジタル不規則シーケンスを用いた低サイクル疲れ試験

Low cycle fatigue testing using digital random sequences with computer control.

著者 (2件)： SKOE R E ,  SWANSON S R
資料名： ASTM Spec Tech Publ (Am S  (ASTM Special Technical Publication (American Society for Testing and Materials))
号： 476  ページ： 59-78  発行年： 1970年 
JST資料番号： H0511A  CODEN： ASTTA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 耐久試験や低サイクル疲れ試験にディジタル不規則過程を適用するためディジタル計算機と閉ループ材料試験機をD-AとA-D変換器を用いて結合した材料試験法と結果の一部を報告する。計算機は入力データに従って試験機を制御し,試験結果を処理記録する。静的強度試験で弾性係数以下7個の因子を自動計測し補正した真のひずみと真の応力の関係をえがき,応力は塑性ひずみエネルギーを求める。低サイクル疲れ試験では全ひずみを一定および乱数で指定し,ヒステレシス・ループの面積などを求める;写図8表5参7

シソーラス用語： 計算制御 ,  疲れ試験
準シソーラス用語： 計算機制御 ,  疲れ試験(計算機制御)

タイトルに関連する用語 (5件)： 計算機制御 ,  ディジタル ,  シーケンス ,  低サイクル疲れ ,  試験